光束质量分析仪,光斑轮廓测量仪

光斑分析仪

1.WinCamD系列光束轮廓分析仪

1.1 WinCamD-LCM系列激光断面分析仪

WinCamD-LCM系列激光断面分析仪是一款高性价比的通用系列光斑分析仪，它具有广泛的波长范围：190-1610 nm，55 um-11 mm的大范围光束直径以及4.2MPixel的高分辨率的特点。除此之外，LCM系列光斑分析仪还具有电子触发全局快门和高达60+Hz的更新速率的优异特点。

激光断面分析仪WinCamD-LCM系列可以与其他的全功能软件搭配使用，该软件不需要许可费，无限制安装和免费的软件更新。它适用于以下应用：连续光和脉冲激光的轮廓分析，激光系统的实时监控，和M2DU导轨搭配使用可以测量光束质量因子M2。

主要特点：

• 新型MagND可堆叠磁性ND衰减片或Mount-C型衰减片

• 带TTL触发器的全局快门

• 电子自动快门，85 us-2 sec（44 dB）

• 脉冲激光自动触发和同步

• 标准无窗口传感器

• ISO 11146 M2选项-光束传播分析，发散，聚焦

• 适用于大光束（LBPS）和线激光（LLPS）分析系统中的相机分析部分

典型应用：

• 连续激光（CW）和脉冲激光（Pulsed）轮廓分析

• 激光系统的实时检测

• 激光偏移测量以及监控

• 搭配导轨对激光M2值和激光发散角进行测量

规格参数:

1.2 WinCamD-LCM-NE系列近红外增强型光斑分析仪

WinCamD-LCM-NE 采用 CMOS 光束分析仪，新的1 英寸高分辨CMOS传感器意味着无拽尾，快门和触发选项使脉冲捕获简单化，是连续和脉冲激光光束分析的理想工具，具有在 400 至 1000 nm 之间的改进的光谱响应，但是由于传感器上存在微透镜，因此不适合用于 UV 波长，并且不提供 TEL 荧光粉涂层。

主要特点：

• 超过四百万像素的超高分辨率

• 像素尺寸：5.5um

• 便捷易用的软件界面让所有参数一目了然

• 超小的外观设计

• 兼容紫外到近红外波段通讯波段（1310nm附近和1550nm附近）

• 连续和脉冲激光器都可以使用

• 高速的USB3.0接口并支持远程操作

• 适配各种大小的光斑，较高的性价比

典型应用：

• 连续和脉冲激光器光斑测量

• 激光光斑模式缺陷检测

• 准直器流水线检测

• 光纤耦合检测

• 高斯光或平顶光光斑能量分布检测

规格参数：

1.3．WinCamD-GCM系列长距离连接应用光斑分析仪

WinCamD-GCM光斑分析仪是为需要长电缆的长距离应用专门设计的光束轮廓分析仪，使用与WinCamD-LCM光束轮廓分析仪相同的传感器（11.3 x 11.3 mm有效面积、420万像素、5.5 x 5.5μm像素、全局快门），采用了GigE Vision标准，比较适合需要大规模数据的长距离传输的远距离光斑分析的需求。

主要特点：

• GigE Vision® 连接

• 190 - 1610nm  波长范围，使用CMOS探测器

• 分辨率 2048 x  2048

• 有效面积  11.3  x 11.3 mm

• 像素尺寸 5.5 x  5.5 µm

• 信噪比 2500：1 （34 dB optical / 68 dB electrical）

• 全局快门，可测连续光，也可测脉冲光，带触发功能

• 搭配导轨后可测M²值

典型应用:

• 需要长距离布线的应用场景

• 连续和脉冲激光轮廓分析

• 激光器和激光系统的现场维修

• 光学组装和仪器对准

• 光束漂移记录

• M²测量

规格参数：

1.4 WinCamD-QD系列量子点SWIR光束分析仪

WinCamD-QD系列采用胶体量子点传感器，可为可见光、短波红外(SWIR)和增强短波红外(eSWIR)光源提供高质量的光束剖面分析。具有15 µm像素、宽达350-2000  nm的波长范围以及全局快门功能，WinCamD-QD系列提供了无与伦比的光束剖面分析能力。具有超过2100:1的信噪比，WinCamD-QD系列能够进行符合ISO 11146标准的光束测量。这款先进的胶体量子点传感器具有极高的灵敏度，并配备了用于脉冲光束剖面分析的全局快门。

WinCamD-QD系列拥有高度可定制的用户中心软件的支持，该软件无需许可费用，支持无限安装和免费软件更新。WinCamD-QD软件允许您与外部程序进行接口交互、记录数据、使用我们的M2DU平移台进行完全自动的M2测量等，所有这些功能都包含在内，无需额外费用。对于功率较高的激光器，我们提供了一系列采样、吸收和反射衰减选项，以确保在进行剖面分析之前充分衰减光束。

主要特点：

• 量子点探测器，1550nm已优化

• 波长范围400-1700nm / 350-2000 nm

• 多种探测面可选，标准为640x512（9.5x7.68 mm），最大范围可达1920x1080（28.8x16.2 mm）

• 15µm像素

• 14位数模转换

• 全局快门，既可测连续光，也可测脉冲光

• 信噪比：≥2100:1

• GigE或USB3.0接口

典型应用:

• 1550nm激光轮廓分析

• 1550nm激光器和激光系统的现场维修

• 光学组装和仪器对准

• 光束漂移记录

• M2测量

规格参数：

1.5 WinCamD-IR-BB系列中红外光束质量分析仪

WinCamD-IR-BB系列中红外光束质量分析仪是 MWIR 和 FIR 范围内激光器的理想成像解决方案，覆盖了从近红外到中红外波段（2um-16um），可测量不同类型激光（连续激光和脉冲激光），不同功率（微瓦级别光束测量至上千瓦激光测量），通过其独特的用户友好型的软件交互界面，可以帮助您方便快速的分析和统计激光光斑的全部信息。对于准直光束最大可测光斑直径可达25mm，并且还有针对极小光斑（几个um级别），极大光斑（大于25mm），光束质量M²，发散角等多种激光参数测量可以通过增加相应附件的形式来实现，对于您未来的测量需求直接购买附件就可实现，可以最大化的利用单个相机满足不同测量需求，避免了重复购买相机等情况。

产品特点：

• 宽带2-16μm微测热辐射计

• 640 x 480, 10.88 x 8.2mm探测器

• 17  µm  像元大小

• USB3.0,3米数据线

• 7.5Hz频率

• 自动化NUC集成快门14-bit ADC

• 14  ms积分时间，脉冲测量重复频率可达1kHz

• 无需斩波器和TEC制冷

• 加套件可用于M2测量

典型应用：

• MIR/FIR/CO2激光轮廓分析

• 现场分析CO2激光器和激光系统

• 光学组装和仪器对准

• 光束漂移记录

• 高分辨率红外成像

规格参数：

2. BladeCam 系列相机型光束分析仪

2.1. BladeCam2-HR 系列基础型光斑分析仪

BladeCam2 更新了 USB 3.0 连接和其他改进，提供了增强的 BladeCam 光束分析体验。高分辨率和高度紧凑的 BladeCam2-HR 光束质量分析仪具有 5.2 μm 像素的分辨率，厚度仅为  0.5 英寸，可轻松集成到光学系统和 OEM 应用中。

产品特点：

• 355  - 1150nm 波长范围，使用CMOS探测器

• 可选TEL款用于1480 - 1610 nm波段

• 提供用于紫外和1310nm的款式

• 分辨率 1280 x 1024

• 有效面积 6.6 x 5.3 mm

• 像素尺寸 5.2 x 5.2 µm

• 信噪比 1000：1

• 卷帘快门，可测连续光，也可测脉冲光，带触发功能

• 搭配导轨后可测M²值

典型应用：

• 连续和脉冲激光轮廓分析

• 激光器和激光系统的现场维修

• 光学组装和仪器对准

• 光束漂移记录

• M²测量

规格参数：

2.2. BladeCam2-XHR系列超紧凑、经济实惠型高分辨率光斑测量仪

BladeCam2 更新了 USB 3.0 连接和其他改进，提供了增强的 BladeCam 光束分析体验。高分辨率和高度紧凑的 BladeCam2-HR 光束质量分析仪具有 5.2 μm 像素的分辨率，厚度仅为  0.5 英寸，可轻松集成到光学系统和 OEM 应用中。

产品特点：

• 超过三百万像素的超高分辨率

• 像素尺寸：3.2um

• 便捷易用的软件界面让所有参数一目了然

• 超小的外观设计

• 兼容紫外到近红外波段

• 连续和脉冲激光器都可以使用

• 高速的USB3.0接口并支持远程操作

• 适配各种大小的光斑，较高的性价比

典型应用：

• 连续和脉冲激光轮廓分析

• 激光器和激光系统的现场维修

• 光学组装和仪器对准

• 光束漂移记录

• M²测量

• 
  

规格参数：

3. TaperCamD-LCM系列大孔径光斑分析仪

TaperCamD-LCM具有25 x 25 mm的有效面积，4.2 Mpixels像素，12.5 x12.5μm有效像素尺寸，全局快门的光学和电子触发以及2500：1的SNR，并且提供最大的有源传感器区域和USB端口供电。WinCamD-LCM是一款的高信噪比和全局快门与高质量光纤锥形相结合的大光束轮廓分析仪。TaperCamD-LCM提供了一种结构非常紧凑，且易于使用的测量方法，可用于测量各种大型CW或脉冲激光。TaperCam系列大光斑轮廓分析仪非常适用于以下应用：CW和脉冲激光轮廓分析; 激光系统现场维修; 光学组件; 仪器校准; 光束漂移和记录，OEM整合; 光束加工质量监控。

产品特点：

• 355至1150 nm，标准CMOS检测器

• 4.2百万像素，2048 x 2048，25 x 25 mm有效区域

• 12.5μm像素（有效）

• HyperCal™ - 动态噪声和基线校正软件；  端口供电的USB 3.0; 柔性螺钉锁定3米电缆; 没电砖

• 12位ADC，板载微处理器，25,000：1电子自动快门，79μs至2 s ；2,500：1 SNR

• 无窗口传感器标准，无边缘；全局快门，光学/ TTL触发器

• 隔离脉冲触发和并行捕获

典型应用：

• 连续波和脉冲激光轮廓分析

• 激光器和激光系统的现场维修

• 光学组装和仪器调校

• 光束漂移和记录

规格参数：

狭缝扫描式光束质量分析仪

1.  Beam'R2系列狭缝扫描式光束质量分析仪

Beam'R2非常适合于许多激光光束分析的应用。 通过标准的2.5μm宽度大小的狭缝和更大的刀口切面，Beam'R2能够测量直径小至2μm的激光光束。 通过选择硅和InGaAs或扩展的InGaAs，Beam'R2可以分析190  nm至2500 nm的光束。Beam'R2扫描狭缝仪器提供比基于相机的系统更高的分辨率。

产品特点：

• 多种检测器选项，范围为 190 至 2500 nm

• 190 至 1150 nm，硅探测器

• 650 至 1800 nm，InGaAs  探测器

• 1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

• 符合 ISO 标准的光束直径测量

• 端口供电的 USB 2.0

• 自动增益功能

• 用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量的可选载物台附件

• True2D™ 狭缝

• 分辨率达 0.1 μm

• 5  Hz 更新速率（可调 2 至 10 Hz）

• 剖面 CW/准连续波光束

• 光束直径 5 μm 至 4 mm，刀锋模式下为 2 μm

典型应用：

• 非常小的激光光束轮廓分析

• 光学组装和仪器调校

• OEM  集成

• 镜头焦距测试

• 实时诊断聚焦和对准错误

• 实时将多个组件设置到同一焦点

• 使用可用的 M2DU 阶段进行 M² 测量

规格参数：

2.  BeamMap2系列狭缝扫描式光束质量分析仪

BeamMap2 代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量能力，允许在光束行进过程中的多个位置进行测量。这种实时扫描狭缝系统使用旋转圆盘上多个 Z 平面中的 XY 狭缝对同时测量四个不同 Z 位置的四个光束轮廓。BeamMap2 的独特设计最有利于实时测量焦点位置、M²、光束发散和指向。

主要特点：

• 多种探测器选项，覆盖 190 至 2500 nm

• 190 至 1150 nm，硅探测器

• 650 至 1800 nm，InGaAs 探测器

• 1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

• 符合 ISO 标准的光束直径测量

• 端口供电 USB 2.0

• 自动增益功能

• 可选载物台配件，适用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量

• True2D™ 狭缝

• 分辨率达 0.1 µm

• 5 Hz 更新率（可调节范围为 2 至 10 Hz）

• 轮廓连续/准连续光束

• 光束直径 5 µm 至 4 mm

• 多 z 平面扫描

• XYZ 轮廓，加上 θ-Φ

• 焦点位置和直径

• 实时 M²、指向和发散测量

• 以 ±1 µm 的重复性识别焦点（取决于光束）

典型应用：

• 非常小的激光光束轮廓分析

• 光学组装和仪器调校

• OEM  集成

• 镜头焦距测试

• 实时诊断聚焦和对准错误

• 实时将多个组件设置到同一焦点

• 使用可用的 M2DU 阶段进行 M² 测量

规格参数：

3. BeamMap2  Collimate 多平面狭缝扫描光束分析仪

BeamMap2 代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量能力，允许在光束行进过程中的多个位置进行测量。这种实时扫描狭缝系统使用旋转圆盘上多个 Z 平面中的 XY 狭缝对同时测量四个不同 Z 位置的四个光束轮廓。BeamMap2 的独特设计最有利于实时测量焦点位置、M²、光束发散和指向。与标准 BeamMap2 相比，BeamMap2 Collimate 经过特别设计，平面间距显著增加了 5 毫米，以便用于准直良好的光束。

主要特点：

• 多种探测器选项，覆盖 190 至 2500 nm

• 190 至 1150 nm，硅探测器

• 650 至 1800 nm，InGaAs 探测器

• 1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

• 符合 ISO 标准的光束直径测量

• 端口供电 USB 2.0

• 自动增益功能

• 可选载物台配件，适用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量

• True2D™ 狭缝

• 分辨率达 0.1 µm

• 5 Hz 更新率（可调节范围为 2 至 10 Hz）

• 轮廓连续/准连续光束

• 光束直径 5 µm 至 4 mm

• 多 z 平面扫描

• XYZ 轮廓，加上 θ-Φ

• 焦点位置和直径

• 实时 M²、指向和发散测量

• 以 ±1 µm 的重复性识别焦点（取决于光束）

典型应用：

• 非常小的激光光束轮廓分析

• 光学组装和仪器调校

• OEM  集成

• 镜头焦距测试

• 实时诊断聚焦和对准错误

• 实时将多个组件设置到同一焦点

• 使用可用的 M2DU 阶段进行 M² 测量

规格参数：

专用光束分析仪系统

1.工业激光监控系统

工业激光监控系统(ILMS)专为分析聚焦高功率工业激光器而设计。该系统结合了重成像/放大光学器件、保偏光束采样器和光束质量分析仪，以测量可能损坏传统的分析系统的小束腰光束。聚焦光束的放大倍率允许对小至几微米的光束点进行完整的逐像素 2D 测量。

工业激光监控系统（ILMS）与大多数分析仪兼容，并由功能齐全、高度可定制且的专用软件提供支持。

产品特点：

• 适用范围从190nm到16μm

• 提供放大倍率的款式(50倍及以上)

• 能够处理大功率光束

• 带有三个可替换的滤光片，实现灵活装配

• 光束质量分析仪可以轻松从系统中拿出以单独使用

• 可选校准针孔孔径

• 提供集成功率计和光束收集器

应用领域：

• 紧密聚焦的光束，光纤末端，耦合器，半导体激光管等

• 高功率激光切割系统

• 增材制造

• 质量管控

典型规格：

2. LLPS线形激光光束轮廓仪

线激光轮廓分析系统简称（LLPS）是分析长达200mm，宽度低至55um的线激光的完整的解决方案，该方案通过使用我们的旗舰 WinCamD-LCM4 光束轮廓分析相机进行200 毫米线性平台扫描。之后用功能齐全的免费软件来显示线激光强度分布的完整图像以及垂直质心图、线宽图  ，还可以进行其他一些有用的测量。

产品特点：

• 190 至 1150 纳米（视具体型号而定）

• 线激光长度/宽度测量

• 绝对垂直中心点

• 垂直中心点相对于线性回归线的偏差

• 线倾斜度（以度为单位测量）

典型应用：

• 校准

• 机器视觉

• 3D扫描

• 测量仪器

• 粒子计数

• 条码扫描

标准品：

使用一般的轮廓分析仪对线激光测量是比较困难的，因为普通光斑分析仪一般只能测量传感器有效面积2/3大小的光斑，例如S-WCD-LCM的传感器尺寸为11.3mm，只能测量7.7mm以内长度的线激光。而更长的直线光斑的长度大，宽度低，特点明显，用普通的光斑分析仪很难测量。因此我们提供了一套完整的线激光轮廓分析系统解决方案，这个线激光光束分析仪方案中需要用到我们的旗舰WinCamD-LCM4光束轮廓分析相机，以及50mm或200mm平移台进行扫描，在通过专用的软件进行绘图和测量。这套线激光光束分析仪的实际是WinCamD-LCM4再加上一个可活动的导轨，导轨有50mm和200mm两个型号可选，能够测量长度为50mm-200mm，宽度55um-3mm的线形激光。在软件方面，利用专用软件可以自动曝光配置；自定义开始/结束位置；自动生成 PDF 报告；残余传感器倾斜补偿；将数据导出到 Excel 或 CSV；保存/加载线激光文件  (*.l_wcf)。该软件没有许可费用、无限制安装和免费软件更新，可以控制载物台的移动，自动配置线激光扫描的最佳曝光时间，并提供线的分析，且功能齐全、高度可定制。

3. 大尺寸光束轮廓分析系统LBPS

大尺寸光束轮廓分析系统LBPS是一种大尺寸光斑分析系统，针对大尺寸光斑分析，按照观察方式分为两种：反射式与透射式，其中主要是透射式，型号为LBPS-TS-200-LCM，透射式能够更好的应用在光路中，便于分析与观察，面积200x200mm，反射式则观察面积更大，但是相对操作更加复杂，型号为LBPS-300，旋转屏直径300mm。这两种方法都是用WinCamD-LCM4光斑分析仪最终成像，通过软件消除了斑点的影响，并通过计算精确的像素乘法系数，纠正几何光束的扭曲。

主要特点：

• 355 至 1150 nm

• 图像平面（传感器）：4.2 MPixel，2048 x  2048 像素，11.3 x 11.3 毫米有效区域

• 5.5 μm 像素尺寸

• 重新成像镜头：12.5 毫米焦距，f/1.4-f/16

• 透射屏：200 x 200 mm

• 170 μm 有效像素尺寸

标准品：